Taktile Vermessung von Oberflächen

Bearbeitet Oberflächen unterliegen bestimmten Anforderungen bezüglich Profiltiefen, Rauheitszahlen, etc. Diese Kenngrößen und ihre statistische Bewertungsrahmen, messen wir taktil mit hochgenauen, freiabtastenden Systemen.

Dieses Verfahren ergänzt unsere, auf der Röntgen-CT Technologie basierende Metrologie, ist jedoch auch unabhängig davon einsetzbar.

Unsere Ausstattung an Systemen erlaubt auch den mobilen Einsatz, z.B. in der kundeneigenen Produktion.

Die Kenndaten dieser Verfahren sind:

Profilermittlung: Primär-, Welligkeits- und Rauhigkeitsprofile nach DIN/ISO/ASME/JIS oder MOTIF
Kenngrößen nach DIN/ISO: Ra, Rq, Rz, Rmax, Rp, Rpk, Rk, Rvk, Rv, Mr1, Mr2, A1, A2, Vo, Rt, R3z, RPc, Rmr (3x), HSC, RSm, Rsk, Rdc, Rdq, Pa, Pt, PMr (3x), Wa, Wt, WSm, Wsk
Kenngrößen nach ASME: RpA, Rpm
Kenngrößen nach JIS: Ra, Rz, RzJIS, Sm, S
Kenngrößen nach MOTIF: R, Ar, Rx, W, Wx, Wte, CR, CL, CF NR, NCRx, NW

Darauf aufbauende Leistungen:

Prüfung von Oberflächen nach AQL Plänen
Serienprüfung mit statistischer Prozessgüte-Überwachung
Einzelprüfungen mit Führung einer statistischen Prüfhistorie
Pre-Shipment Inspections mit flankierenden Qualitätsprofilen